2020年4月24日

Date: 17:00-18:00, Friday, April 24, 2020
Speaker: Hisashi Asanuma

日 時:2020年4月17日(金)17:00-18:00
講演者:浅沼尚

講演者:浅沼尚(Hisashi Asanuma)
タイトル:高速多点レーザーアブレーション-ICP質量分析法を用いたジルコン中の多元素分析
Title: Determination of minor and trace elements in zircon by using multiple spot laser ablation-ICP-Mass Spectrometry

ジルコン(ZrSiO₄)は微量元素濃度から年代情報に加えてマグマの温度・酸化還元・組成情報などを抽出できるため、地球化学の分野では盛んに研究されてきた鉱物といえる。これまで、ジルコン中の多元素を同時検出可能という点からレーザーアブレーション-ICP質量分析法(LA-ICPMS)は広く用いられてきた。しかしながら、従来法では (1)ジルコン-NIST標準ガラス間でのマトリックス組成の違い、(2)検量線の濃度レンジに課題が残り、十分な確度で分析が達成されているとは言い難い。そこで本研究はガルバノ光学系と高発振周波数レーザーを組み合わせた高速多点アブレーション法を応用し、ジルコンの微量元素濃度測定技術の確立に取り組んでいる。今回の発表では元素ドープの行っていない合成ジルコン及びNIST標準ガラスを用いた検量線の作成結果に加え、文献値の報告例が多い標準ジルコンHarvard 91500の分析結果について紹介する。